固体物質(セラミックス、金属、鉱物等)又は粉末に、波長が一定の単色X線を入射角度を変えながら連続的に照射し、得られる回折ピークから物質の結晶構造を解析(定性、定量)する装置です。専用の粉末X線回折パターン総合解析ソフト「JADE」を使用し、①定性分析、②定量分析、③格子定数の精密化、④データベースと分析対象との比較などに対応できます。詳しくはパンフレットをご覧ください。


X線回折装置パンフレット